1. Метод мікроскопічного поперечного-зрізу
Під час розрізання та полірування поперечного-зрізу зразка товщина покриття безпосередньо вимірюється за допомогою мікроскопа (точність до ±1 мкм), що підходить для лабораторних умов.
2. Метод рентгенівської флуоресценції (XRF).
Не-руйнівне вимірювання з використанням рентгенівських-променів для збудження елементів покриття та аналізу інтенсивності ослаблення. Висока точність (±0,1 мкм), вимагає калібрування стандартними зразками.
3. Метод кулонометричного розчинення
Електролітично розчиняє шар покриття, розраховуючи товщину на основі кількості електроенергії. Може вимірювати багато{1}}шарове покриття (наприклад, системи мідь/нікель/хром), точність ±5%.
4. Магнітний метод/метод вихрових струмів
Підходить для хромування на залізній основі. Вимірює товщину за допомогою змін магнітного потоку або вихрових струмів. Портативний, але на нього істотно впливає матеріал підкладки.
5. Метод хімічного розчинення
Краплинний метод із затримкою: Розчиняє шар покриття соляною кислотою, записуючи час для обчислення товщини (тільки для тонких шарів).<1.2μm, error ±15%).
Метод розчинення та зважування: зважує зразок після хімічного розчинення для обчислення товщини, вимагає уникнення впливу субстрату.
6. Метод профілометра
Формує сходинку шляхом розчинення або маскування підкладки, вимірювання висоти сходинки. Підходить для нерівних поверхонь.
Рекомендації по вибору
Високі вимоги до точності: віддайте перевагу методу рентгенівської-флуоресценції або методу мікроскопічного поперечного-зрізу.
-Швидке тестування на місці: товщиномір магнітного/вихрового струму.
Багато{0}}шарове покриття: кулонометричний метод розчинення.
